在日新月異的電子產(chǎn)品研發(fā)領域，測試環(huán)節(jié)不僅是驗證產(chǎn)品性能的關鍵步驟，更是確保產(chǎn)品穩(wěn)定可靠、符合市場需求的基石。然而，隨著電子產(chǎn)品功能的日益復雜和集成度的提高，電磁干擾（EMI）問題日益凸顯，成為影響測試準確性和研發(fā)效率的重要因素。